澳大利亚联邦科学与工业研究组织（CSIRO）的研究人员们研制成功一种新型X射线显微镜，它能够对不透明或多层结构的物体内部进行高分辨率成像。

以前，X射线技术在微米水平上进行高分辨率成像时，尤其是对X射线吸收率非常小的物体，效果不佳。最近，CSIRO的科学家们利用高性能X射线显微镜和多种X射线相差成像技术，可以直接对不透明或多层机构物体内部进行成像。

断层X射线扫描成像技术通过在不同角度进行成像，进而重建出物体的三维结构，能够对多层结构进行非常细微的成像。

CSIRO与XRT公司合作开发的这些X射线设备与方法还在不断完善中，他们希望将这种技术应用于工业上的早期损伤探测上。X射线超倍显微镜可以将不透明或多层结构物体的内部结构成像，分辨率提高到亚微米水平，达到50纳米。而商业应用的X射线微聚焦源的分辨率只能达到1微米左右。

这种新型X射线成像方法可以应用于材料科学、空间技术、生命科学、食品检测、微电子学和地质学。它还能应用于生物技术，以及下一代能源产品中的微电子器件与材料。