在最新一期的《科学》（Science.2012Nov15.）杂志上，发表了一篇来自华盛顿大学医学院，霍德华休斯医学院等处的研究人员利用一种新型技术的文章，研究完成了多达2446个样品外显子测序分析，找到了自闭症谱系障碍（ASD，Autism Spectrum Disorder）的多个频发突变，不仅为治疗ASD疾病提供了新思路，而且也提出了一种低成本，多基因测序新方法。

领导这一研究的是华盛顿大学医学院Jay Shendure副教授，以及Evan E. Eichler教授，第一作者为Brian O'Roak，这一研究组致力于自闭症的分子机理研究。

自闭症谱系障碍（ASD，Autism Spectrum Disorder）是根据典型自闭症的核心症状进行扩展定义的广泛意义上的自闭症，既包括了典型自闭症，也包括了不典型自闭症，又包括了阿斯伯格综合症、自闭症边缘、自闭症疑似等症状。

让人担心的是，目前此类疾病的患病概率很高——据相关报告显示：平均每88个儿童中就有一个儿童患病。几十年来，科学家们一直在讨论遗传与环境因素对自闭症的影响，而关于基因成分与自闭症关系的讨论却是近几年才开始的。

之前的三个研究组，包括Eichler教授研究组在内发现了引起儿童大脑变异从而导致其社交问题的上百种，甚至上千种基因突变，但是要在大规模样品基础上，进行精确的重测序，寻找致病基因依然不容易，而且成本高。

在最新这篇文章中，研究人员改进了分子倒置探针（Molecular Inversion Probe，MIP）技术，从而研发出了一种新型多重靶向测序方法，这种方法成本低，精确度高，是基因测序技术的又一新发展。

分子倒置探针技术与线性探针序列相比，能够指数级减少由于线性引物序列所引起的交叉反应及二聚体现象，具备了分子挂锁探针的优点。这种探针由7部分序列组成：2个内切酶识别位点，可利用限制性内切酶处理探针序列，2段目的基因互补序列，以及2段通用引物序列以及1段特异性标签序列。

利用这种技术，研究人员对两千多位受到不同类型ASD影响的患者进行了多基因分析，完成了四十四种基因的测序，在其中十六种基因中发现了27种随机突变。并且研究人员发现了6种频发突变：CHD8，DYRK1A，GRIN2B，TBR1，PTEN和TBL1XR，这些基因高频发生突变，可能是造成1%偶发性的自闭症谱系障碍的病因。

这项研究结果揭示了自闭症谱系障碍的分子病理机制，并提出了一种低成本，多基因测序新方法，这种方法可以用于可能是由随机破坏性的突变风险造成疾病的遗传分析。