XPF400C型偏光熔点仪

一、仪器的主要用途和特点
XPF400C型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等专业最常用的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。

二、系统数字性

XPF400C型偏光熔点仪系统是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机成像技术和精密的温控技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在计算机上很方便地观察不同温度下的偏光效果图像，并对偏光图谱进行分析,处理,还可输出或打印偏光图片。

三、仪器的主要技术指标

1.显微镜技术参数:

名称	规格
总放大倍数：	40X---630X
无应力消色差物镜	4X/0.1
	10X/0.25
	25X/0.40
	40X/0.65 弹簧
	63X/0.85 弹簧
目镜	10X 十字目镜
目镜	10X 分划目镜
试片	石膏 1λ 试片
	云母 1/4λ 试片
	石英楔子试片
测微尺	0.01mm
滤色片	蓝色
带座目镜网络尺
移动尺	移动范围 30mm×40mm
镜筒	三目观察

偏光显微镜: 单目偏光显微镜双目偏光显微镜反射偏光显微镜透射偏光显微镜透反射偏光显微镜偏光熔点仪偏光分析软件

(责任编辑：泉水)

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