根据《放射学》杂志七月刊报道，研究人员采用一种新型成像技术——扩散张量成像（DTI），成功追踪了婴儿大脑发育过程，并检测到脑白质异常。该技术通过测量水分子在组织中的扩散方向和程度，能够比传统磁共振成像（MRI）更早地发现脑损伤。

挪威Veldhoven Máxima医学中心的Carola van Pul博士及其团队研究了7名正常婴儿和10名围产期缺氧缺血性脑病（HIE）婴儿。HIE是由于分娩过程中氧气和营养供应不足导致的脑损伤，常引起严重的运动功能障碍。van Pul博士指出：“这种脑损伤模式严重影响婴儿的神经发育。早期检测对于避免永久性脑损伤和提高生存质量至关重要。”

研究团队利用DTI技术中的纤维追踪（tractography）算法，构建了大脑白质的三维结构图。通过连续三个月的监测，他们首次在世界上实现了对新生儿大脑白质发育的纵向追踪。结果显示，10名HIE婴儿中有8名在初始扫描时就表现出与正常婴儿不同的白质图谱。异常区域包括胼胝体（连接左右半球的神经纤维束）和辐射冠（协调运动的关键通路）。所有辐射冠异常的婴儿均表现出明显的运动协调问题。

van Pul博士强调：“婴儿微小的脑白质变化可以通过三个月的纤维追踪观察到，这些变化具有持续的标记意义。”在美国，HIE的发生率约为每1000名新生儿中有1-2例，是导致婴儿死亡和残疾的重要原因之一。