据bio.com网站2006年1月17日报道，美国犹他大学的医学博士通过基因芯片技术发现，某一染色体区域可能携带自闭症相关基因。该基因的存在可能是导致自闭症的主要原因。研究主要针对美国犹他州一个高自闭症患病率的家族进行。

研究涉及该家族的31名成员，其祖先来自北欧，其中7人患有自闭症或类似疾病。研究人员使用类似微阵列的基因芯片寻找自闭症基因标志。该芯片包含已知的“单核苷酸多态性”（SNPs），通过比较受测者DNA上不同SNP的变异情况，定位潜在致病基因。

该研究排除了先前认为与自闭症相关的某些基因，并证实了芬兰医学家的发现，即自闭症与第3号染色体有关。研究人员对第3号染色体进行分析，发现第一个分析区域包含106个SNP，其中70个显示该区域基因与自闭症密切相关，例如FXR1基因。FXR1与FMR1基因相似，FMR1基因变异会导致脆性X染色体综合征，进而引发智力障碍，而脆性X综合征与自闭症存在重叠。然而，进一步研究发现FXR1与自闭症无直接关联。目前，研究人员仍在持续分析第3号染色体上的其他区域。